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Kienzle Prozessanalytik GmbH - Optische Prozessanalytik, Optical Process Analytics, Oberfl�¤chenmessung, Messtechnik

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à  Optische à  Wasser, Kienzle Prozessanalytik fA ?r

Die IP-Adresse lautet 87.106.113.244.

DNS-Daten

HostKlasseTypZiel
systektum.deINSOAns55.1und1.de
systektum.deINMXmx01.kundenserver.de
systektum.deINMXmx00.kundenserver.de
systektum.deINNSns55.1und1.de
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systektum.deINA87.106.113.244

Server-Ping

PING systektum.de (87.106.113.244) 56(84) bytes of data.
64 bytes from kundenserver.de (87.106.113.244): icmp_req=1 ttl=55 time=8.54 ms
64 bytes from kundenserver.de (87.106.113.244): icmp_req=2 ttl=55 time=10.9 ms
64 bytes from kundenserver.de (87.106.113.244): icmp_req=3 ttl=55 time=7.48 ms
64 bytes from kundenserver.de (87.106.113.244): icmp_req=4 ttl=55 time=7.48 ms

--- systektum.de ping statistics ---
4 packets transmitted, 4 received, 0% packet loss, time 602ms
rtt min/avg/max/mdev = 7.481/8.610/10.927/1.406 ms
Die Seite hat eine Ladezeit von 0.19 Sekunden. Die Verbinungszeit zum Server beträgt 8.54ms.

HTTP-Header

HTTP-TagWert
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dateWed, 17 Dec 2014 03:00:12 GMT
serverApache
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Meta Tags

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DC.titleKienzle Prozessanalytik GmbH - Optische Prozessanalytik, Optical Process Analytics
DC.creatorKienzle Prozessanalytik GmbH - Optische Prozessanalytik, Optical Process Analytics
DC.subjectOptische Prozessanalytik, Optical Process Analytics, Messtechnik, Oberfl�¤chenmessung
DC.descriptionOptische Prozessanalytik, Optical Process Analytics, Messtechnik, Oberfl�¤chenmessung
DC.publisherKienzle Prozessanalytik GmbH - Optische Prozessanalytik, Optical Process Analytics
DC.contributorTypo3, Projekt 77 - Creating eSolutions.
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DC.identifierhttp://www.systektum.de
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DC.coverageFlensburg
DC.rightsKienzle Prozessanalytik GmbH - All Rights Reserved - Alle Rechte vorbehalten
authorKienzle Prozessanalytik GmbH - Optische Prozessanalytik, Optical Process Analytics
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publisherProjekt 77 - Creating eSolutions (www.projekt-77.de)
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DESCRIPTIONStartseite der Firma Kienzle Prozessanalytik GmbH.
AUTHORErik Ziegler
KEYWORDSProzessanalytik, Prozessautomatisierung, Produktqualit�¤t, ��lauflage, Schichtdicke, Oberfl...
Content-Typetext/html; charset=iso-8859-1
content-languagede

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Letzte Aktualisierung: 17.12.2014 4:37