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Spektroskopische Ellipsometrie
Auf dieser Seite wird das Verfahren der Spektroskopischen Ellipsometrie erläutert. Es wurde unter anderem die dielektrische Funktion von Si, GaAs und GaAsN aufgenommen. Der Zusammenhang von Bandstrucktur und dielektrische Funktion, sowie eine Abschätzung vom Nitrid-Anteil im GaAsN wird aufgezeigt.